[VIP第1年] 指数:3
定义与特性
正性光刻胶是一种在曝光后，曝光区域会溶解于显影液的光敏材料，形成与掩膜版（Mask）图案一致的图形。与负性光刻胶（未曝光区域溶解）相比，其优势是分辨率高、图案边缘清晰，是半导体制造（尤其是制程）的主流选择。
化学组成与工作原理
主要成分
• 树脂（成膜剂）：
◦ 传统正性胶：采用**酚醛树脂（Novolak）与重氮萘醌（DNQ，光敏剂）**的复合体系（PAC体系），占比约80%-90%。
◦ 化学增幅型（用于DUV/EUV）：含环化烯烃树脂或含氟聚合物，搭配光酸发生器（PAG），通过酸催化反应提高感光度和分辨率。
• 溶剂：溶解树脂和感光剂，常用丙二醇甲醚醋酸酯（PGMEA）或乳酸乙酯。
• 添加剂：表面活性剂（改善涂布均匀性）、稳定剂（防止暗反应）、碱溶解度调节剂等。
工作原理
• 曝光前：光敏剂（如DNQ）与树脂结合，形成不溶于碱性显影液的复合物。
• 曝光时：
◦ 传统PAC体系：DNQ在紫外光（G线436nm、I线365nm）照射下发生光分解，生成羧酸，使曝光区域树脂在碱性显影液中溶解性增强。
◦ 化学增幅型：PAG在DUV/EUV光下产生活性酸，催化树脂发生脱保护反应，大幅提高显影速率（灵敏度提升10倍以上）。
• 显影后：曝光区域溶解去除，未曝光区域保留，形成正性图案。
光刻胶厂家推荐吉田半导体，23 年专注研发，全系列产品覆盖芯片制造与 LCD 面板！LCD光刻胶
LCD光刻胶吉田市场定位与未来布局。
行业地位与竞争格局
1. 国际对比
◦ 技术定位：聚焦细分市场（如纳米压印、LCD），而国际巨头（如JSR、东京应化）主导半导体光刻胶（ArF、EUV）。
◦ 成本优势：原材料自主化率超80%，成本低20%；国际巨头依赖进口原材料，成本较高。
◦ 客户响应：48小时内提供定制化解决方案，认证周期为国际巨头的1/5。
2. 国内竞争
国内光刻胶市场仍由日本企业垄断（全球市占率超60%），但吉田在纳米压印、LCD光刻胶等领域具备替代进口的潜力。与南大光电、晶瑞电材等企业相比，吉田在细分市场的技术积累更深厚，但ArF、EUV光刻胶仍需突破。
风险与挑战
技术瓶颈：ArF、EUV光刻胶仍依赖进口，研发投入不足国际巨头的1/10。
客户认证周期：半导体光刻胶需2-3年验证，吉田尚未进入主流晶圆厂供应链。
供应链风险：部分树脂（如ArF用含氟树脂）依赖日本住友电木。
行业竞争加剧：国内企业如南大光电、晶瑞电材加速技术突破，可能挤压吉田的市场份额。
- 产品特点：耐溶剂型优良，抗潮耐水性好，耐印率高；固含量高，流平性好，涂布性能优良；经特殊乳化聚合技术处理，网版平滑、无白点、无沙眼、亮度高；剥膜性好，网版可再生使用；解像性、高架桥性好，易做精细网点和线条；感光度高，曝光时间短，曝光宽容度大，节省网版作业时间，提高工作效率 。
- 应用范围：适用于塑料、皮革、标牌、印刷电路板（PCB）、广告宣传、玻璃、陶瓷、纺织品等产品的印刷。例如在塑料表面形成牢固图案，满足皮革制品精细印刷需求，制作各类标牌保证图案清晰，用于 PCB 制造满足高精度要求等。
厚板光刻胶
- 电路板制造：在制作对线路精度和抗蚀刻性能要求高的电路板时，厚板光刻胶可确保线路的精细度和稳定性，比如汽车电子、工业控制等领域的电路板，能承受复杂环境和大电流、高电压等工况。
- 功率器件制造：像绝缘栅双极晶体管（IGBT）这类功率器件，需要承受高电压和大电流，厚板光刻胶可用于其芯片制造过程中的光刻环节，保障芯片内部电路的精细布局，提高器件的性能和可靠性。
负性光刻胶
- 半导体制造：在芯片制造过程中，用于制作一些对精度要求高、图形面积较大的结构，如芯片的金属互连层、接触孔等。通过负性光刻胶的曝光和显影工艺，能实现精确的图形转移，确保芯片各部分之间的电气连接正常。
- 平板显示制造：在液晶显示器（LCD）和有机发光二极管显示器（OLED）的制造中，用于制作电极、像素等大面积图案。以 LCD 为例，负性光刻胶可帮助形成液晶层与玻璃基板之间的电极图案，控制液晶分子的排列，从而实现图像显示。
发展战略与行业地位。进口光刻胶报价
LCD 光刻胶供应商哪家好?吉田半导体高分辨率 +低 VOC 配方!LCD光刻胶
工艺流程
• 目的：去除基板表面油污、颗粒，增强感光胶附着力。
• 方法：
◦ 化学清洗（硫酸/双氧水、去离子水）；
◦ 表面处理（硅基板用六甲基二硅氮烷HMDS疏水化，PCB基板用粗化处理）。
涂布（Coating）
• 方式：
◦ 旋涂：半导体/显示领域，厚度控制精确（纳米至微米级），转速500-5000rpm；
◦ 喷涂/辊涂：PCB/MEMS领域，适合大面积或厚胶（微米至百微米级，如负性胶可达100μm）。
• 关键参数：胶液黏度、涂布速度、基板温度（影响厚度均匀性）。
前烘（Soft Bake）
• 目的：挥发溶剂，固化胶膜，增强附着力和稳定性。
• 条件：
◦ 温度：60-120℃（正性胶通常更低，如90℃；负性胶可至100℃以上）；
◦ 时间：5-30分钟（根据胶厚调整，厚胶需更长时间）。
曝光（Exposure）
• 光源：
◦ 紫外光（UV）：G线（436nm）、I线（365nm）用于传统光刻（分辨率≥1μm）；
◦ 深紫外（DUV）：248nm（KrF）、193nm（ArF）用于半导体先进制程（分辨率至20nm）；
◦ 极紫外（EUV）：13.5nm，用于7nm以下制程（只能正性胶适用）。
• 曝光方式：
◦ 接触式/接近式：掩膜版与胶膜直接接触（PCB、MEMS，低成本但精度低）；
◦ 投影式：通过物镜聚焦（半导体，分辨率高，如ArF光刻机精度达22nm）。
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